依據標準IEC61000-4-2/EN 61000-4-2/GB?T 17626.2：靜電放電抗擾度試驗

靜電放電試驗主要檢查人或物體在接觸設備時(shí)所引起的放電（直接放電），以及人或物體對設備鄰近物體的放電（間接放電）時(shí)對設備工作造成的影響。靜電放電時(shí)可以在0.5～20ns的時(shí)間內產(chǎn)生1～50A的放電電流。雖然電流很大但因持續時(shí)間很短，故能量很小。所以一般靜電放電不會(huì )對人產(chǎn)生傷害，但對集成電路芯片等電子產(chǎn)品可能產(chǎn)生破壞性的危害。

? 靜電放電試驗的測試等級為：接觸放電2kV，4kV，6kV，8kV；空氣放電：2kV，4kV，8kV，15kV。

依據標準：?IEC61000-4-4/GB?T 17626.4：快速瞬變電脈沖群抗擾性試驗;

脈沖群抗擾度測試，是模擬電網(wǎng)中眾多機械開(kāi)關(guān)在切換感性負載時(shí)所產(chǎn)生的干擾。這類(lèi)干擾的特點(diǎn)是：成群出現的窄脈沖、脈沖的重復頻率較高（kHz～MHz級）、上升沿陡峭（ns級）、單個(gè)脈沖的持續時(shí)間短暫（10～100ns級）、幅度達到KV級。成群出現的窄脈沖可對半導體器件的結電容充電，當能量積累到一定程度后可引起線(xiàn)路或設備出錯。試驗時(shí)將脈沖疊加在電源線(xiàn)（通過(guò)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò )）和通信線(xiàn)路（通過(guò)電容耦合夾），對設備形成干擾。

受試設備（EUT）的試驗部分主要包括設備的供電電源端口、保護接地（PE）、信號和控制端口。

依據標準

??IEC 61000-4-5/GB?T 17626.5：浪涌（沖擊）抗擾性試驗

浪涌（沖擊）抗擾性試驗，是模擬自然界里的雷擊（間接雷）以及供電線(xiàn)路中因大型開(kāi)關(guān)切換所引起的電壓變化對供電線(xiàn)路和通信線(xiàn)路的影響。浪涌試驗規定了兩種波形（1.2/50μs和通信波10/700μs）、幅值為0.5kV到4kV，能量特別大，對EUT的影響可能是破壞性的。10/700μs（俗稱(chēng)通信波）適用于長(cháng)距離對稱(chēng)通信端口，1.2/50μs適用于電源線(xiàn)端口和其他信號線(xiàn)端口。

依據標準

IEC 61000-4-11/ GB T 17626.11：電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾性試驗

電壓暫降和電壓中斷是由電網(wǎng)、電力設施的故障或負荷突然出現大的變化引起的。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷的連續變化引起的。如果EUT對電源電壓變化不能及時(shí)作出反應，就可能引發(fā)故障。

本方法適用于額定輸入電流每相不超過(guò)16A連接到50Hz/60Hz交流網(wǎng)絡(luò )的電氣和電子設備，對于電流大于16A的測試要求，由IEC 61000-4-34標準規定。

電壓暫降的測試等級以%UT（暫降后剩余電壓為參考電壓的百分比）表示：0%，40%，70%，80%，120%。

短時(shí)中斷一般指電源完全中斷達250個(gè)周期（50Hz）或者300個(gè)周期（60Hz）電壓變化，一般指突變到70%后維持1個(gè)周期，再經(jīng)過(guò)25/30個(gè)周期后恢復到參考電壓的情況。

測試儀器示意圖

一般單相測試設備，以選擇傳導瞬態(tài)抗干擾綜合機最為經(jīng)濟，例如UCS500N5，UCS500N7，配置抽頭變壓器后，就能進(jìn)行測試。

PFS503N

• 獨立式測試設備

• 符合?IEC 61000-4-11?和?IEC 61000-4-34?標準的三相全兼容測試系統

• 適用于三角型和星型供電系統測試

• 具備6個(gè)電子開(kāi)關(guān)及短路保護功能

• 額定電壓?3x440V，每相電流最大可達?100A

• 直流信號控制外置自耦變壓器